變頻互感器測(cè)試儀測(cè)試方法
點(diǎn)擊次數(shù)：1335 更新時(shí)間：2017-06-15
變頻互感器測(cè)試儀測(cè)試方法
變頻互感器測(cè)試儀開(kāi)機(jī)后，進(jìn)入界面，旋轉(zhuǎn)光標(biāo)先選擇被測(cè)互感器類型，可分為兩大類：
1、 CT類:P（保護(hù)）、TPY、M（測(cè)量） 3 個(gè)選項(xiàng)
2、 PT類：PT測(cè)試。
選擇后可看到不同的菜單界面如圖8、9、10、11所示，進(jìn)入相應(yīng)測(cè)試界面后，設(shè)置相應(yīng)測(cè)試參數(shù)進(jìn)行試驗(yàn)。
變頻互感器測(cè)試儀測(cè)試前請(qǐng)確定被測(cè)互感器的所有接地線都斷開(kāi)。
直阻校零：
試驗(yàn)前，先校零，使測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確（每次開(kāi)機(jī)只需校零一次）。
以四芯線為例，校零方法如下：首先用四芯測(cè)試線的一端接測(cè)試儀的S1、S2、K1、K2四個(gè)測(cè)試端口，另一端相互短接（圖3），其次CT類選擇進(jìn)入“直阻校零”測(cè)試進(jìn)行校零，PT類選擇進(jìn)入（直阻）測(cè)試項(xiàng)目后，再選擇進(jìn)入“直阻校零”項(xiàng)目進(jìn)行校零，校零結(jié)束，光標(biāo)彈至“開(kāi)始測(cè)試”處，校零結(jié)束。
CT勵(lì)磁（伏安）特性、直阻、變比、極性、角差、比差測(cè)試：
校零結(jié)束，接線圖對(duì)照?qǐng)D4所示，測(cè)試儀端口P1/P2用兩芯電纜接被測(cè)CT一次對(duì)應(yīng)P1/P2端，用四芯測(cè)試線的一端接測(cè)試儀的S1、S2、K1、K2四個(gè)測(cè)試端口，對(duì)應(yīng)另一端S1和K1短接后接至被測(cè)CT二次的S1端，S2和K2短接并接至被測(cè)CT二次的S2端。接線完成后，點(diǎn)擊“開(kāi)始測(cè)試”即開(kāi)始試驗(yàn)，試驗(yàn)結(jié)束將顯示相應(yīng)測(cè)試結(jié)果。
PT變比、極性、角差、比差測(cè)試：
接線圖對(duì)照?qǐng)D5所示，測(cè)試儀端口P1/P2用兩芯電纜接被測(cè)PT二次端子，測(cè)試儀端口S1/S2用兩芯電纜接被測(cè)PT一次端子，接線完成后，點(diǎn)擊“變比極性”即開(kāi)始試驗(yàn)，試驗(yàn)結(jié)束將顯示變比、極性、角差、比差測(cè)試結(jié)果。
PT勵(lì)磁（伏安）特性、直阻測(cè)試：
校零結(jié)束，接線圖對(duì)照?qǐng)D6所示，用四芯測(cè)試線的一端接測(cè)試儀的S1、S2、K1、K2四個(gè)測(cè)試端口，對(duì)應(yīng)另一端S1和K1短接并接至被測(cè)PT二次的a/x端，S2和K2短接并接至被測(cè)PT二次的x/a端。接線完成后，選擇相應(yīng)測(cè)試項(xiàng)目（勵(lì)磁/直阻），即完成相應(yīng)試驗(yàn)，試驗(yàn)結(jié)束將顯示相應(yīng)測(cè)試結(jié)果。
CT/PT負(fù)荷測(cè)試：
對(duì)互感器二次所接的負(fù)載進(jìn)行測(cè)試時(shí)，首先根據(jù)被測(cè)互感器銘牌設(shè)置好額定負(fù)荷、額定電壓電流。其次參照?qǐng)D7進(jìn)行接線，用四芯測(cè)試線的一端接測(cè)試儀的S1、S2、K1、K2四個(gè)測(cè)試端口，對(duì)應(yīng)另一端S1和K1短接并接至被測(cè)二次負(fù)載的一端，S2和K2短接并接至被測(cè)二次負(fù)載的另端。接線完成后，選擇進(jìn)入“負(fù)荷”測(cè)試項(xiàng)目并開(kāi)始試驗(yàn)，試驗(yàn)結(jié)束將顯示相應(yīng)測(cè)試結(jié)果。
